通过CISC Xplorer Inline提升您的RFID生产...

CISC半导体有限公司是一家源自奥地利的世界领先企业，专注于为实验室和生产环境提供射频识别（RFID）测量解决方案，以优化质量、提升性能并增强效率。

凭借26年的行业积累，CISC致力于为全球半导体、汽车、无线通信及RFID等领域的客户提供高品质产品与专业工程服务。众多领先企业在其产品开发过程中采用CISC的技术与专业知识，以满足日常生活中日益严格的安全与可靠性标准。

CISC RAIN Inline Xplorer

CISC RAIN Inline Xplorer：一款用于生产线中高速测试、编码及加密RAIN Inlay和标签的设备。它可集成于任何生产线。

核心优势：

1.  在产线上对标签进行高速性能测试。提供用于外部触发的通用输入/输出（GPIO）接口和用于实现全自动化的应用程序接口（API），并具备标记缺陷或弱信号标签的选项。

2.  不会降低或限制生产速度。

3.  支持多个测试点。

4.  支持多通道测试。

主要特性：

1.  测试频率范围：800 MHz至1GHz

2.  发射功率范围：-10 dBm至28dBm

3.  接收灵敏度：-80 dBm

4.  读取EPC、TID及存储区数据

5.  写入EPC及存储区数据（编码）

6.  测量标签在不同频率下的灵敏度

7.  最短EPC读取测试时间：6 ms

8.  集成安全加密模块（SAM）

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CISC NFC Xplorer Inline

CISC RAIN Inline Xplorer：一款用于生产线中高速测试、编码及加密NFCInlay和标签的设备。它可集成于任何生产线。

核心优势：

1. 在产线上对标签进行高速性能测试
2. 不降低或限制生产速度
3. 支持多个测试点
4. 支持多通道测试

主要特性：

1. 可调磁场强度
2. 全面支持1至6类标签
3. 具备读写模式，用于编码与个性化处理
4. 提供GPIO接口用于外部触发，配备API以实现全自动化，并可选配标记缺陷或弱信号标签功能
5. 支持ISO/IEC 14443 A+B与15693标准
6. 测试速度高达每小时10万件

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CISC RAIN Xplorer

CISC RFID Xplorer是一款紧凑型高精度RFID测试仪器，用于测量RFID设备和应用设置的性能、验证合规性，并支持读写器、标签和集成电路的开发。它是一款涵盖所有RFID测量功能的硬件设备。

Xplorer是市场上最灵活的RFID测试设备，仅需单一硬件即可满足所有RFID测试需求。Xplorer专为开放区域测试而设计，同时也是使用便携式或固定RF测试暗室进行RF受控环境测量的高精度解决方案。该测试设备通过图形用户界面（GUI）控制，并提供附加的应用程序编程接口（API），以便在标准开发环境中开发用户自定义的测试序列。设备工作频率范围为800 MHz至1GHz，每频率点的测量速度低于1秒。

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CISC NFC Xplorer

CISC NFC Xplorer是一款紧凑、高质量的测试系统，用于HF RFID和NFC设备的测量以及性能和一致性测试。硬件单元提供两个高阻输入端口和一个50欧姆输出端口，这使得 NFC Xplorer成为支持根据 ISO 进行测量并完全补偿被测设备影响的设备。该设备能够与HFRFID卡和NFC设备进行通信，并且是空中接口通信的分析仪。信号记录实时进行，且没有记录时间限制。

 诚邀您您亲自前往CISC在E4馆T22的展位，了解我们独特的解决方案。